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本项目开发了一个基于 RoRD（Rotation-Robust Descriptors）模型的集成电路（IC）版图识别系统，旨在实现高效、鲁棒的模板匹配。RoRD 是一种先进的局部特征匹配方法，通过自监督学习和随机旋转增强，解决了 IC 版图识别中的四大核心挑战：数据稀缺性、几何多变性（支持 8 个离散旋转方向：0°、90°、180°、270°及其镜像）、动态扩展性和结构复杂性。项目使用 PyTorch 实现，包含模型训练、评估和模板匹配功能，适用于 IC 版图分析和自动化设计验证。
Updated 2025-10-20 15:23:48 +00:00
Updated 2025-05-21 15:26:25 +00:00